Электронная микроскопия
- Сканирующие электронные микроскопы (SEM)
- Просвечивающие электронные микроскопы (TEM/STEM)
- Двулучевые микроскопы (SEM/FIB)
- Системы фокусированного ионного пучка (FIB)
- Пробоподготовка для оптической и электронной микроскопии
- Расходные материалы
- Сервисное обслуживание
- Программное обеспечение (SW)
- Решения для геологии
Спектроскопия и фотоника
- Флуоресцентные спектрометры
- Рамановские спектрометры
- Спектрометры кругового дихроизма
- Спектрометры остановленного потока
- Атомно-абсорбционные и атомно-эмиссионные спектрометры
- Импульсные лазеры
- Вторичная ионная масс-спектрометрия
- Оборудование для рентгеновской электронной спектроскопии
- Оборудование для спектроскопии методом рассеяния медленных ионов
- Высокомощные импульсные лазеры
- Электроника и детекторы для единичного счета фотонов (TCSPC)
