Двухосный Z-PHI столик для образца

 Двухосный столик для образца выравнивает поверхность образца по центру первичного рентгеновского пучка в автоматическом режиме и является обязательным аксессуаром при проведении следующих типов измерений:

1. Дифрактометрия при скользящем падении (GIXRD)
2. Рефлектометрия (XRR)
3. Определение остаточных напряжений по методу sin2ψ
4. Измерение текстуры в геометрии iso-inclination
5. Определение ориентации монокристаллов

Характеристики:

• Максимальная масса образца: 1 кг
• Максимальный размер образца: 70 мм (ширина)×13 мм (высота)
• Максимальный ход по оси Z: 13 мм
• Минимальный шаг перемещения по оси Z: 0,625 мкм
• Минимальный шаг вращения по углу Phi: 0,002°

Аксессуар для порошкового дифрактометра Powdix 600  и PRO.

Арт. 30.01.100