Система анализа минералов MLA

Технические приложения

Характеристика руды:

• Оценка месторождений;
• Характеристика геометаллургических свойств руды;
• Обнаружение наночастиц драгоценных металлов.

Расчет & оптимизация параметров переработки руды:

• Проведение анализа как малых производств, так и в больших объемах;
• Определение размера частиц помола.

Извлечение металлов:

• Определение оптимальных потоков (на концентратор);
• Обеспечение эффективного смешивания руды;
• Избегание металлургически бедных минеральных ресурсов.

Вспомогательные программы для проведения анализа минералов

Поиск полезных ископаемых:

• Основные металлы:
  • Медная руда;
  • Никелевая руда;
  • Железная руда;
  • Другие руды (свинец, цинк, марганец).
• Драгоценные металлы:
  • Металлы платиновой группы;
  • Урановая руда;
  • Золотая руда;
  • Другие руды, такие как серебро, титан.
• Минералы, используемые в промышленности;
• Частицы тяжелых минералов.

Другие отрасли горнодобывающей промышленности.

Дополнительные характеристики минералов, такие как:

• Минералогический состав бурового керна и минералы;
• Индикаторы (нефть и газ);
• Минералогический состав угольной золы (уголь);
• Загрязненные почвы (обработка отходов);
• Минералогический состав зольной пыли (цемент).

Возможности анализа минералов (полностью автоматизированный процесс):

• Классификация минералов;
• Концентрация минералов;
• Расположение элементов;
• Структура минералов;
• Минеральные ассоциации;
• Свободные частицы минералов.

Автоматизированный сбор данных, анализ и презентация

Комплект программного обеспечения MLA:

• ПО для сбора данных:
  • Управление сбором данных SEM и EDS;
  • Создание базы данных образцов.
• Программа обработки данных:
  • Инструменты для обработки и классификации изображений;
  • Управление базой данных минералов.
• Программа вывода данных (DataView):
  • Просмотр данных в табличной или графической форме;
  • Сравнение, комбинирование и фильтрация блоков данных;
  • Поиск и группирование схожих минералов;
  • Поиск зерен минералов (модальный анализ )и анализ распределения элементов по образцу (количественный анализ);
  • Распределение частиц и зёрен по размеру;
  • Минеральные ассоциации, частицы и инклюзии;
  • Расчетные кривые качества сырья;
  • Плотность и форма частиц.

Режим измерения:

• BSE – изображение;
• X-BSE – изображение + РФС;
• GXMAP – изображение + РФС карты (метод Форда);
• SPL – поиск свободных частиц фазы;
• XMOD – рентгеновский модальный состав;
• RPS – поиск фазовых включений;
• SX-BSE (метод Лэтти);
• STD – автоматизированное составление базы данных стандартов;
• Двукратное увеличение (метод Шустера);
• Двойная выдержка (метод Меллера);
• Линейное сканирование.

• ​Специальные держатели образцов — держатели для любого размера и любой формы, например, для тонких сечений;
• MLA сертификация и обучение — рекомендуется к использованию начинающими пользователями MLA;
• Контракт на обслуживание и поддержку;
• Выбор обучения (SEM и EDS).

Спецификации сканирующего электронного микроскопа:

• Электронная оптика;
• Сверхяркий, сверхстабильный источник полевой эмиссии Шоттки;
• Средняя стабильность пучка: < 0.4 % / 10 часов;
• Быстрое восстановление устойчивости пучка после откачки – в среднем <15 минут.

Детекторы:

• BSED, двухсегментный полупроводниковый;
• SED, Everhart Thornley & низковакуумный SED (LFD);
• Инфракрасная камера.

Вакуум:

• Режим работы при высоком вакууме;
• Режим работы при низком вакууме (от 10 до 130 Па);
• Режим работы в естественной среде (от 1 до 4000 Па), ESEM;
• 1 x 240 л/с турбомолекулярный насос, 2 форвакуумных насоса.

Разрешение:

• 1.2 нм @ 30 кВ (SE);
• 2.5 нм @ 30 кВ (BSE);
• Ускоряющее напряжение 200 В-30 кВ;
• Зондовый ток до 100 µA, плавно регулируемый.

Камера:

• Ширина 379 мм;
• Рабочее расстояние 10 мм;
• 35˚ угол наблюдения РФС;
• Снабжена многочисленными детекторами EBSD, EDS и WDS.

Предметный столик:

• X-Y = 150 мм;
• Z = 65 мм;
• T = – 5˚ до + 70˚;
• R = 360˚, бесступенчатый.

Управление системой:

• 32-битный графический интерфейс Windows® 7;
• Клавиатура;
• Оптическая мышь;
• Вывод изображений на два 19-дюймовых ЖК дисплея SVGA 1280 x 1024.

EDS:

• Кремниевые дрейфовые детекторы (SDD);
• 10 мм² активной зоны с возможностью установки нескольких детекторов;
• Энергетическое разрешение: 133 эВ;
• Ультрабыстрое преобразование импульсов без использования жидкого азота;
• Возможно картографирование элементов и количественный анализ спектров.

MLA 650F представляет собой сканирующий электронный микроскоп, оборудованный источником излучения на основе полевой эмиссии (FEG) и нескольких высокоскоростных энергодисперсионных рентгено-флуоресцентных датчиков (EDX) для получения изображений и информации о составе большого количества образцов — в основном, полированных шлифов, полученных при переработке минералов, из буровых кернов или же осадочных материалов.

Специализированное программное обеспечение для анализа минералов использует данные для получения и оценки таких характеристик, как вид минерала, состав, распределение элементов, размер зёрен, наличие свободных частиц и агломератов.

Способность системы MLA 650F сокращать сроки выполнения операций от дней до часов появилась благодаря модернизации технического и программного обеспечения. Одним из основных преимуществ модернизации является более быстрое воспроизведение изображений в более высоком качестве. Этот эффект достигнут благодаря использованию электронного источника с повышенной яркостью, высокоскоростной системы получения данных, а также выборке наилучших образцов, скоростной автоматизации и усовершенствованному аналитическому дизайну.