Система лазерной абляции Applied Spectra J200 LA
Пакет программного обеспечения J200 Data Analysis вместе с прибором J200 LA от Applied Spectra Inc. преобразуют полученную с помощью лазерной абляции информацию в применимые для ваших аналитических приложений данные через простой и понятный пользовательский интерфейс.
Независимо от того, проводите ли вы количественный анализ для сложных образцов, пространственную съемку с высоким разрешением или быструю съемку для оперативного обнаружения изотопов, прибор J200 LA, работая с вашим ICP-MS (масс-спектрометром с индуктивно-связанной плазмой), предоставит вам наилучшие результаты для решения всех поставленных задач.
Преимущества:
- Компактный, модульный дизайн;
- Автоматическая регулировка высоты отбора проб на неровных поверхностях образца;
- Оптимизация камеры для образцов для измерений проводимых с помощью ЛА;
- Высокоточное управление потоком газа;
- Улучшение визуализации с помощью двойной камеры.
Кроме того, конструкция J200 позволяет опционально добавить три разных детектора LIBS (лазерно-искровой эмиссионной спектрометрии), открывая широкий спектр аналитических возможностей в автономном режиме работы LIBS прибора.
Возможности:
- Быстрое прямое опробование твердых частиц;
- Отображение элементного/изотопного состава и профилирование глубины образца;
- Ведущее программное обеспечение для анализа данных для количественного анализа и съемки образца;
- Расширенный элементный охват и динамический диапазон концентрации доступны с добавленной опцией LIBS на J200 Tandem LA-LIBS;
- Лучшая методическая поддержка от экспертов мирового класса по масс-спектрометрии с лазерной абляцией и индуктивно связанной плазмой (LA-ICP-MS).