Двулучевые микроскопы (SEM/FIB)

Электронная колонна NiCol с тремя внутрилинзовыми детекторами, высокопроизводительная ионная колонна, автоматическое послойное травление для 3D характеризации, подготовка образцов для TEM.

Электронная колонна Elstar FESEM с интегрированным монохроматором (UC) обеспечивает суб-нанометровое разрешение в диапазоне от 1 до 30 кВ. Оптимальна для исследования наноматериалов.

Helios Plasma FIB является передовой во всем мире платформой DualBeam с высокой пропускной способностью исследования образцов и 3D характеризации материалов.

Электронный двулучевой микроскоп для изготовления ламелей для крио-томографии и прочих крио-приложений.

Двулучевой сканирующий электронно-ионный микроскоп Helios 5 Hydra — уникальная платформа MultiBeam с газовым плазменным источником ионов с возможностью быстрого переключения между пятью различными типами ионов, что обеспечивает высочайшую производительность при исследования образцов, позволяет проводить 3D характеризацию больших объемов материалов.