Электронная микроскопия
Компания FEI в 2017 году вошла в состав корпорации Thermo Fisher Scientific и закрепила статус мирового лидера в производстве систем электронной и ионной микроскопии. Линейка продукции Thermo Fisher Scientific включает сканирующие электронные микроскопы (SEM), просвечивающие электронные микроскопы (TEM), системы фокусированного ионного пучка (FIB), двулучевые микроскопы DualBeam™ (FIB/SEM). Если вы хотите купить оборудование для исследования поверхности и объема материалов, качественного и количественного элементного анализа методами рентгеновской и электронной спектроскопии для различных областей науки и промышленности, электронные микроскопы компании Thermo Fisher Scientific станут отличным решением для ваших задач.
Обслуживание и сервисная поддержка электронных микроскопов
ddddsdsdsd
sdfsdfdsfdf
Сканирующие электронные микроскопы (SEM)
Каталог систем сканирующей электронной микроскопии для исследования строения и состава широкого класса веществ с помощью сфокусированного электронного пучка.
Просвечивающие электронные микроскопы (TEM)
Каталог систем просвечивающей электронной микроскопии для анализа структуры и состава материала с атомарным разрешением. Заказать просвечивающие электронные микроскопы (TEM) в компании ТехноИнфо.
Двулучевые микроскопы (SEM/FIB)
Каталог двулучевых электронных и ионных микроскопов для проведения исследований с высоким разрешением. Заказать двулучевые системы FIB/SEM в компании ТехноИнфо.
Системы фокусированного ионного пучка (FIB)
Каталог систем фокусированного ионного пучка (FIB). Заказать системы фокусированного ионного пучка (FIB)
Решения для геологии
Специализированные микроскопы, созданные для решения задач рудной геологии и геологического сопровождения работ по добыче МПИ.
Пробоподготовка и дополнительное оборудование для электронной микроскопии
Серия установок Системы напыления для пробоподготовки исследований методами электронной микроскопии. С помощью подготовки образцов вы сможете значительно улучшить качества получаемых изображений и защитить образцы, чувствительные к пучку электронов. Напыление производится методами магнетронного распыления и термического резистивного испарения. Напыляемые материалы: металлы и углерод.
Программное обеспечение (SW)
Автоматизация рутинных и трудоемких аналитических методов электронной микроскопии.
