Сканирующие ион-проводящие микроскопы (SICM) для получения топографических изображений с высоким разрешением нетвердых и чувствительных поверхностей
Производитель сканирующих ион-проводящих микроскопов (SICM) для получения топографических изображений с высоким разрешением нетвердых и чувствительных поверхностей